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无损检测系列

残余奥氏体衍射仪

   本产品可精确测量残余奥氏体的含量,对于热处理的控制是非常重要的,X射线衍射法(XRD)是唯一可以测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法,残余奥氏体的测量遵循国际标准ASTM E975-03规则。

    X射线衍射法可以准确测定钢热处理后残余奥氏体的含量,能够为钢铁热处理过程控制提供可靠保证,提高产品质量。

    X射线衍射法是目前为止测量钢体中残余奥氏体含量最准确的方法。根据ASTM E975-03的X射线测量钢中残余奥氏体近晶体随机取向的标准方法,ARE X这款仪器能够很轻松检测出钢体中残余奥氏体的含量。

X射线发生器

最大输出功率

3KW

输出稳定性

<0.01% (电源供给10%的波动)

最大输出电压

60KV

最大输出电流

60mA

电压步宽

0.1KV

电流步宽

0.1mA

波动

0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz

预热与电路

自动预热和斜坡控制电路

输入电压

230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 单相

X射线光管

光管类型

玻璃(可选陶瓷),Mo靶材,细焦斑(可根据要求选其他型号)

焦斑尺寸

0.4 x 8 mm FF (可选0.4 x 12 mm LFF;

1 x 10 mm NF)

准直

单毛细管准直器:直径1 - 2毫米

最大输出电压

3KV

测角仪

配置

垂直测角仪

扫描角范围

27° < 2θ< 40°

角准确度

± 0.001°

样品台

尺寸

110 mm x 150 mm

探测器

类型

高分辨率,带直接耦合(微米)光纤输入的X射线数码摄像仪和带制冷CCD

机体

尺寸

658 mm X1059 mm X762 mm

X射线泄露量

< 1 mSv/年 (按照国际准则充分安全屏蔽)

处理单元

计算机类型

个人计算机

控制对象

X射线发生器、探测器和数据库

基本数据处理

建立校准曲线,残余奥氏体计算

 


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